Чип отслеживает состояние здоровья аккумулятора
Компания Texas Instruments (TI) разработала 26-канальный чип управления аккумуляторами с функцией электрохимической импедансной спектроскопии (EIS) для отслеживания состояния аккумулятора, пишет Ник Флахерти.
«Одной из проблем является отсутствие возможности наблюдения за внутренним состоянием элемента аккумулятора, и инженеры уже давно борются с этой проблемой», — сказала Вэньцзя Лю, вице-президент и генеральный менеджер подразделения управления аккумуляторными системами в TI.
«Лишь недавно технология EIS стала практически применимой», — продолжила она. «Она предусматривает подачу небольших токов на различных частотах для измерения реакции элемента аккумулятора. Можно считать EIS своего рода электрокардиографом аккумулятора, позволяющим получать более ранние данные и прогнозы».
Монитор заряда BQ79826Z-Q1 определяет уровень заряда до 26 элементов с точностью до 2 мВ во всем диапазоне температур от -40 до +125 °C при напряжении элемента от 0 до 5,5 В.
«Технология EIS позволяет выявлять потенциальные неисправности внутри элемента и является первым устройством с 26 каналами в отрасли», — сказал Брайан Берк, инженер по системам для продуктов батарей в TI. «Это обеспечивает более точную оценку уровня заряда и диагностику в реальном времени. Это новое изобретение для нашего портфеля BMS, которое позволяет инженерам сократить количество датчиков температуры, получать более точные значения температуры внутри элемента благодаря прогностической диагностике, а также выявлять внутренние напряжения элемента раньше, чем когда-либо прежде, для определения риска теплового срыва».
Когда структура может включать от 100 до 200 ячеек, устройство с 26 каналами позволяет создавать стеки из 128 ячеек, что обеспечивает значительную экономию средств на мониторах и компонентах, используемых в конфигурациях 400 и 800 В. Интегрированные транзисторы обеспечивают пассивное балансирование тока в ячейках до 300 мА.
«Мы также сократили уровень шума в 10 раз для измерения сигналов. Таким образом, наш чип гораздо точнее», — сказал Бурк.
Нажмите здесь, чтобы прочитать последний номер журнала E-Mobility Engineering.